芯片测试垫片是在芯片测试过程中使用的一种材料，其主要功能是提供垫片间隔和保护芯片表面。以下是芯片测试垫片的一些优势：保护芯片表面：芯片测试垫片可以防止芯片表面受到损坏，如刮擦、划痕或腐蚀等。这对于确保...

封装通常采用细间距球栅阵列（FBGA）或薄型小尺寸封装（TSOP）的形式，如图2所示。FBGA封装中的锡球和TSOP封装中的引线分别充当引脚，使封装的芯片能够与外部组件之间实现电气和机械连接。2、半导...

PCRRubberSocket「PCR导电胶」 RubberSockeＰＣＲ的主要特点：>具有良好的压力敏感性。 >灵活接触，具有良好的接触面跟随性。 >不会对接触面造成伤害。 ...

针对存储芯片测试座，导电胶RubberSocket将成为测试座市场的主流韩企将微电子机械系统(MEMS)粒子用于导电胶的开发。从上往下看像环状平坦MEMS粒子相互吻合形成电极，与半导体的锡球接合。在粒...

封装测试晶圆测试中判定为良品的芯片进行封装工艺，完成的封装的芯片再进行一次封装测试。晶片测试时是良品的也会在封装工艺中出现不良，所以封装测试是非常必要的。晶片测试由于设备性能的限制，同时测试多个芯片，...

修复可分为列（Column）单位行（Row）单位。在列中创建多余的列，用多余的列单元代替有不良单元格的列，这就是以列为单位的修复；用多余的行单元代替有不良单元格的行，这就是以行为单位的修复。DRAM的...

什么是探针（又名Pogo针或弹簧探针）？ -什么是PogoPins？pogo销是一种电气连接器机构，用于许多现代电子应用和电子测试行业。它们用于提高与其他电触点的耐用性，以及其电气连接对机械...

信号路径必须屏蔽，以尽量减少电磁干扰的影响。当然，除此之外，插座必须在大批量生产环境中成功运行，并能够在多年内可靠地处理数百万台设备。因此，必须模拟、建模和设计机电特征，以达到信号保真度、压缩力、可用...

维修(Repair)修复是主要在存储半导体中执行的工序，多余的单元代替不良单元的修复算法（Repair Algorithm）。例如，如果DRAM 256bit内存的晶片测试结果显示有1bit不合格，那...

内存测试解决方案采用近DUT测试技术设计。仪表板位于测试接口单元和测试头扩展内，在DUT和测试仪器之间提供业内蕞短的距离。这一架构设计突破为存储设备制造商提供了“快速测试”的优势，以多面测...

「半导体后工程第二篇」半导体封装的定义和作用（2/11） 半导体工艺分为制造晶片和刻录电路的前工程、封装芯片的后工程。两个工程里后工程在半导体细微化技术逼近临界点的当下，重要性越来越大。特别...

晶圆测试以晶圆老化（WaferBurnin）产生的初始不良晶圆，用探针卡进行晶圆测试。晶圆测试是在晶片状态下检测芯片电学特性的工艺。其主要目的是预先筛选出封装前可能产生的不良、并分析原因，提供制造工艺...