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四川96BGA-0.8P导电胶

来源: 发布时间:2023年04月17日

关于半导体工艺这点你要知道 (5)扩散(Diffusion) 工艺

4、扩散工艺中的两个重要条件还记得上一段时间蚀刻工艺中的主要因子——均匀度和蚀刻速度吗? 就像所有半导体制造过程一样,扩散过程也必须是均匀的。因此,为了通过向硅中注入杂质来建立所需的集成电路(IC)模型,有两个关键因素。

1) Constant Source Diffusion恒定源扩散缩写为CSD,这意味着在扩散过程中硅表面的杂质浓度必须是恒定的。使用“dose”量来表示每单位面积的总杂质颗粒数,即浓度。


基于英特尔平台开发DDR及LPDDR颗粒及模组测试仪器,可并根据客户需求进行固件及软件调试。四川96BGA-0.8P导电胶

关于半导体工艺这点你要知道(4)蚀刻工艺

为什么要做好蚀刻(Etching)?!

2#蚀刻速率(Etch Rate)

蚀刻速率表示一段时间内膜的去除量。等离子体态的原子和离子的数量,或者这些原子和离子所具有的能量,决定了蚀刻的快慢。当然,如果量大,能量高,蚀刻速度就会增加。所以你可以调整这些数量和能量,以适应合适的蚀刻速度。此外还有根据膜质,将不同的蚀刻量按比例表示的选择性(Selectivity)等考虑因素,所有这些细节都在蚀刻(Etching)工程组中进行着很多努力,以更加精细的方式进行。 大家对蚀刻(Etching)工序理解了吗?等离子体,均匀度,蚀刻速度,下回见! 广州导电胶测试存储设备的大小和测试数量,还可以测试可读和写的速度。

电磁插座成型器(MSSF系列)-硅/PCR插座/测试插座

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「半导体专题讲座」芯片测试(Test)

3.半导体测试(功能方面):直流参数测试(DCTest)/AC参数测试(ACTest)/功能测试(FunctionTest)

3-1. 直流参数测试(DC Test)

产品开发阶段和量产阶段也就是说,DC测试是对为晶体管(Tr)形成而执行的工艺参数(Process Parameter)是否正确进行的检验结果(Performance)。所以DC测试的结果都有一个限制值,最大值或最小值。可以看做是将前工序的各个过程是否进入Spec-in,进行测量的结果与预先设定的基准模型进行比较,确认是否存在差异的程序。在量产阶段,如果芯片为Spec-Out,则该芯片将被视为不合格来处理,在芯片键合(Die Bonding)时将其排除在外。但是在开发阶段,我们会将这些反馈(Feedback),并对工艺/产品/技术采取改进措施(在开发阶段,我们会对所使用的Trial Wafer本身进行Scrap,而不管它是好的Chip还是Bad Chip)。另外在量产阶段晶片测试时,由于效率的原因,在Scribe Line内创建TEG(Test Elements Group)区域,以测试用图案(Pattern)铺上Tr/Diode/Capacitance/电阻等,测量该部位。 关于半导体工艺这点你要知道 (6)薄膜沉积工艺。

什么是测试座?什么是半导体芯片测试器?什么是Probe Card/pin?

半导体在晶片状态下完成后不会直接封装,这会造成很大问题,因为在包装好的产品会参杂次品。所以主要进行2次测试,前工序完成后,在晶片状态下,通过光学显微镜进行检查,然后把晶片塞进测试仪,发出电信号检查晶片上的芯片是否正常工作。 将晶片和测试器连接在一起的产品被称为Probe Card。

在晶片状态下进行测试后,将残次品剪除,将正常部分剪出进行封装。然后我们再检查封装芯片,为了测试封装的半导体芯片,我们把芯片和电气连接在一起的介质称为测试座。测试种类一般电性测试和Burn-in测试。在这种测试中物理连接半导体传送电性信号作用的叫Probepin,这个大体分为两种一种是pogotype和Rubbertype。

过去Robert是储存芯片,Pogo是非储存芯片,但是**近在非储存器中也开始使用Rover。所以不会以存储和非存储选择,而是以封装基板不同选择产品,BGA基板更适合Rubber,Lead Fram 基板Pogo更合适。 关于半导体工艺这点你要知道(3)光刻技术(Photo Lithography)工艺。中国香港导电胶

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「半导体专题讲座」芯片测试(Test)

3. 半导体测试(功能方面):直流参数测试(DC Test)/AC参数测试(AC Test)/功能测试(Function Test)

3-1. 直流参数测试(DC Test)

半导体测试(功能方面)在直流参数测试(DC TEST或DC Parametric Test)中,对单个晶体管(Tr)的电气特性进行电气参数测量(EPM或Electrical Parameter Measurement),以确保芯片中的单个晶体管(Tr)工作正常。具体来说结构是Open还是Short,端子之间是否有泄漏电流,各种输入/输出电压是否在Spec限制之内。例如,不仅是导线(Wire)或球(Ball)是否翘起或丢失,电路中的线是否粘合在一起等形态上的缺陷,还包括扩散和离子注入时的浓度,以及使用的气体种类等,晶圆代工(Fab)和封装工艺上的致命错误,都需要进行电气检查和查明。当然很难100%地确认。 四川96BGA-0.8P导电胶

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