什么是探针（又名Pogo针或弹簧探针）？
-什么是PogoPins？pogo销是一种电气连接器机构，用于许多现代电子应用和电子测试行业。它们用于提高与其他电触点的耐用性，以及其电气连接对机械冲击和振动的弹性。pogo销的名称来自于与pogo棒相似的销——销中的集成螺旋弹簧对配合插座或接触板的背面施加恒定的正常力，抵消任何可能导致间歇性连接的不必要的运动。这种螺旋弹簧使pogo销***，因为大多数其他类型的销机构使用悬臂弹簧或膨胀套管 那么，相较于引入新的晶圆制造工艺，在封装过程中采用RDL技术重新排列现有晶圆上的焊盘更加高效。浦东新区智能导电胶
晶圆测试以晶圆老化（WaferBurnin）产生的初始不良晶圆，用探针卡进行晶圆测试。晶圆测试是在晶片状态下检测芯片电学特性的工艺。其主要目的是预先筛选出封装前可能产生的不良、并分析原因，提供制造工艺反馈，以及通过晶片电平分析（WaferLevelVerification）反馈元件及设计等。在晶圆测试中，如果筛选出劣质单元，可以通过多余的单元（Redundancycell）替换来修复（Repair）的过程，修复工艺后，将再次进行晶圆测试，以确认这些被取代的电芯是否能正常发挥作用，来判定芯片为满足规格的良品。中山芯片测试导电胶批发厂家联系深圳市革恩半导体有限公司！
维修(Repair)修复是主要在存储半导体中执行的工序，多余的单元代替不良单元的修复算法（Repair Algorithm）。例如，如果DRAM 256bit内存的晶片测试结果显示有1bit不合格，那么这款产品就是255bit。但当多余的单元取代劣质单元后，又成为满足256bit并可销售给客户的良品。通过修复，蕞终提高了产量。因此，存储芯片在设计时会产生多余的单元，以便根据测试结果进行替代。但是为了应对不良现象，制作多余的单元就会占用空间，增加芯片的大小。因此，不可能产生很多的单元格。因此考虑工艺能力，制作出能蕞da程度体现良率增加效果的多余单元。也就是说如果工艺能力好，劣质少，就可以少做多余的单元，如果工艺能力不好，预计劣质多，就会多做多余的单元。
芯片工艺的详细步骤
刻蚀：使用化学气体或离子束，根据光刻胶的保护图案，将氧化层刻蚀掉。未被保护的硅表面暴露出来，形成了所需的图案。清洗和去除光刻胶：使用化学溶剂将光刻胶去除，只保留暴露的硅表面和部分氧化层。掺杂：在特定区域中加入掺杂物，如硼、磷、砷等，以改变硅片的电学特性。扩散/离子注入：将硅片加热，使掺杂物渗透进入硅晶体内部，形成所需的电子或空穴区域。金属沉积：在硅片表面涂覆金属层，通常用铝或铜，作为导线连接不同的电子元件。 此外，RDL技术也可以用于中心焊盘芯片的芯片堆叠。
任何半导体产品开发时，芯片设计和封装设计都不会分开进行。通常设计芯片和封装设计同时进行，以便针对产品从整体上实现特性的优化。为此封装部门会在芯片设计之前首先考虑芯片是否可封装。在可行性研究期间，首先对封装设计进行粗略测试，，并通过电气评估，热评估，结构评估进行分析，从而实际量产时是否存在问题进行研究。这里的半导体封装设计是指基板（substrate）或引线框架（Leadframe）的布线设计，因为这是将芯片安装到主板的媒介。封装部门会根据封装的临时设计和分析结果，向芯片设计人员提供有关封装可行性的反馈。只有完成了封装可行性研究，芯片设计才算完成。接下来是晶圆制造。在晶圆制造过程中，封装部门会同步设计封装生产所需的基板或引线框架，并由后段制造公司继续完成生产。与此同时，封装工艺会提前准备到位，在完成晶圆测试并将其交付到封装部门时，立即开始封装生产。 为了测试封装的半导体芯片，我们把芯片和电气连接在一起的介质称为测试座。湛江254BGA导电胶定制
什么是芯片测试底座？浦东新区智能导电胶
晶圆测试晶圆测试的测试对象是晶圆。晶圆上有很多芯片组成，这些芯片的特性和质量需要通过晶圆测试来确认和验证。这需要将测试设备和芯片连接起来，对芯片施加电流和信号。封装完成的产品被安装锡球（Solder Ball）一样的引脚（pin），因此比较容易与测试设备进行电气连接。但对于晶圆状态下，则需要特殊方法。因此需要的是探针卡（Probe Card）。如<图2>所示，探针在卡上形成了无数的探针，使其能够与晶圆上的焊盘进行物理接触。而且卡内还布置可以连接探针和测试设备的布线。该探针卡被安装在测试头部，以便在晶圆加载的设备中与晶片接触，进行测试。浦东新区智能导电胶