DDR存储器有什么特性？
一：工作电压低采用3.3V的正常SDRAM芯片组相比，它们在电源管理中产生的热量更少，效率更高。DDR1、DDR2和DDR3存储器的电压分别为2.5、1.8和1.5V
二：延时小存储器延时性是通过一系列数字来体现的，如用于DDR1的3-4-4-8或2-2-2-5、2-3-2-6-T1、。这些数字表明存储器进行某一操作所需的时钟脉冲数，数字越小，存储越快。延时性是DDR存储器的另一特性。
三：时钟的上升和下降沿同时传输数据DDR存储器的优点就是能够同时在时钟循环的上升和下降沿提取数据，从而把给定时钟频率的数据速率提高1倍。比如，在DDR200器件中，数据传输频率为200MHz，而总线速度则为100MHz。 半导体工艺分为制造晶片和刻录电路的前工程、封装芯片的后工程。黄浦区LPDDR测试导电胶发展现状
什么是探针（又名Pogo针或弹簧探针）？
-什么是PogoPins？pogo销是一种电气连接器机构，用于许多现代电子应用和电子测试行业。它们用于提高与其他电触点的耐用性，以及其电气连接对机械冲击和振动的弹性。pogo销的名称来自于与pogo棒相似的销——销中的集成螺旋弹簧对配合插座或接触板的背面施加恒定的正常力，抵消任何可能导致间歇性连接的不必要的运动。这种螺旋弹簧使pogo销***，因为大多数其他类型的销机构使用悬臂弹簧或膨胀套管 浦东新区254BGA导电胶有哪些芯片测试垫片（导电胶）的优势？
关于半导体工艺这点你要知道（4）蚀刻工艺
干法（Dry）蚀刻方法与等离子体（Plasma）
蚀刻技术的铜版画美术和半导体工艺存在方法上的差异；在美术中，利用锋利的雕刻工具制造出线路，而在工程中，首先用光刻胶（Photo Resist）制造出保护膜。然后进行蚀刻.
这样的蚀刻工序根据引起反应的物质的状态可以分为湿法和干法两种。
干法与湿法相比有费用高、方法难等缺点，但**近为了提高产出率和超细电路蚀刻，干法被***使用！
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「半导体专题讲座」芯片测试（Test）
半导体测试目的
半导体测试的目的是挑出劣质芯片，在这个过程中检查并改进先前进行的工艺，筛选率（Screenability）一直是非常重要的问题，它能让劣质芯片不进入到下一道工序。因此晶圆测试（Wafer Test）的目标是防止劣质芯片被不必要地封装，从而降低成本，进而提高盈利能力。包装测试是为了确保高质量的半导体交付给客户，以防止劣质产品出货。此外即使良品芯片出货到客户手上，也会出现芯片动作错误（Fault），为了让用户在一段时间内安全地使用芯片，在制造过程中提前挑出薄弱的芯片（在产品的整个生存期内筛选出初期/中期不良），确保可靠性（Reliability）是非常重要的。这样进行的测试结果（Performance）可以通过内部反馈改善工艺，也可以积极用于半导体技术和产品的研究开发。 芯片贴装是封装工艺中非常关键的一步,其主要目的是将单颗芯片从已经切割好的wafer上抓取下来,并安置基板.
Burn-in Board（测试烧入机）测试仪器配件——探针
Probe
封装规格是选择探针针头及材质的参考基准，电性规格为选择探针电氣特性的参考论据，革恩半导体可依客户所提供的资料，为客户挑选比较符合测试需要的探针。
特殊针款-FinePitchandRollingPin
FinePitch晶圆测试技术日进演变，朝高精密规格发展，测试用探针也必要跟着精进，在维持电性要求的情況下，我们提供也FinePitch针款供客户评估选用，分別有弹簧外露针或是一般探针款的选择。 导电胶测试垫片的优势在哪？东莞178BGA-0.65P导电胶哪里好
半导体设计不属于制造工艺，所以简述半导体制造工艺的话，依次是晶片工艺、封装工艺和测试。黄浦区LPDDR测试导电胶发展现状
关于半导体工艺这点你要知道（4）蚀刻工艺
为什么要做好蚀刻（Etching）？！
2#蚀刻速率(Etch Rate)
蚀刻速率表示一段时间内膜的去除量。等离子体态的原子和离子的数量，或者这些原子和离子所具有的能量，决定了蚀刻的快慢。当然，如果量大，能量高，蚀刻速度就会增加。所以你可以调整这些数量和能量，以适应合适的蚀刻速度。此外还有根据膜质，将不同的蚀刻量按比例表示的选择性(Selectivity)等考虑因素，所有这些细节都在蚀刻(Etching)工程组中进行着很多努力，以更加精细的方式进行。 大家对蚀刻（Etching）工序理解了吗？等离子体，均匀度，蚀刻速度，下回见！ 黄浦区LPDDR测试导电胶发展现状
深圳市革恩半导体有限公司是以芯片导电胶测试垫片，DDR测试、LPDDR测，内存测试仪器，内存颗粒内存条测试研发、生产、销售、服务为一体的革恩半导体业务领域： 1. 测试设备 01. 基于英特尔平台开发DDR及LPDDR颗粒及模组测试仪器，并可根据客户需求进行固 件及软件调试 02. 基于MTK平台开发LPDDR、EMMC、UFS测试仪器，并可根据客户需求进行固件及软件调试现有P60、P90、G90、20M、21M平台测试仪器已开发完成及开发中 03.高低温测试设备及量产设备 2. Burn-in Board(测试烧入机） 测试仪器配件－导电胶、测试座子、探针 04.DDR测试、导电胶芯片测试、技术服务支持、支持研发服务企业，公司成立于2019-12-06，地址在深圳市宝安区西乡街道桃源社区臣田航城工业区A1栋305南边。至创始至今，公司已经颇有规模。公司主要产品有芯片导电胶测试垫片，DDR测试、LPDDR测，内存测试仪器，内存颗粒内存条测试等，公司工程技术人员、行政管理人员、产品制造及售后服务人员均有多年行业经验。并与上下游企业保持密切的合作关系。GN以符合行业标准的产品质量为目标，并始终如一地坚守这一原则，正是这种高标准的自我要求，产品获得市场及消费者的高度认可。深圳市革恩半导体有限公司本着先做人，后做事，诚信为本的态度，立志于为客户提供芯片导电胶测试垫片，DDR测试、LPDDR测，内存测试仪器，内存颗粒内存条测试行业解决方案，节省客户成本。欢迎新老客户来电咨询。