X射线衍射作为一电磁波投射到晶体中时，会受晶体中原子的影响出现衍射现象。每种晶体内部的原子排列方式是独一的，因此对应的衍射花样是独一的，从而可以进行物相分析。XRD可以应用的领域广，可普遍应用于工业检测。检测速度相当快。XRD是X射线衍射的简称，X射线衍射。通过分析材料。X射线衍射，分析其衍射图，获取材料成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。X射线是一种短波长（约20~0.06埃）的电磁波，可以穿透一定厚度的材料。为什么要求XRD测试粉末样品要稍微多一些？这主要是因为粉末样品要铺满整个样品台，不然X射线可能会打在样品台上，影响数据质量。XRD分析仪的使用可以使用户能够快速可靠做出决策。深圳布鲁克X射线衍射仪仪器原理
XRD设备具有哪些特性？XRD分析仪兼具检测速度快和检测结果准确的特性，检测人员可以比传统XRD系统更快的速度轻松地完成定量性XRD分析。我们不但了解检测速度对用户的重要性，我们还深知用户对准确性和可重复性的要求：我们的分析仪可以提供用户所需的准确度和可重复性！与需要定期重新调整以补偿磨损的齿轮光学部件的传统XRD系统相比，我们的XRD分析仪没有多少移动部件，因此可以提供较为准确、可靠的结果，从而可使用户充满信心、快速地做出决策。德国布鲁克XRD厂家很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。
XRD设备原理如下：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生至大强度的光束称为X射线的衍射线。满足衍射条件，可应用布拉格公式：2dsinθ=λ。应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
高分辨率XRD，能够确定外延层的厚度、成分、松弛、应变、掺杂剂水平和误切。直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成。在需要时将三轴分析仪晶体自动插入和对齐到光束中。自动样品校准、测量、分析和报告。倒数空间图在几分钟内完成并使用PeakSplit进行分析。可以使用模拟双轴和三轴衍射扫描。样品要求：粉末样品请准备至少20mg，0.1g以上较好，量少可以用微量室，但是效果相对不是很好。需要粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感；块状样品要求长宽1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，需要注明测试面，测试面需要平整光洁。XRD设备需要科学的进行使用。
XRD衍射强度和峰的宽度与样品颗粒大小，还是与晶体颗粒大小有关？样品中晶粒越小，衍射峰的峰高的强度越来越低，但是峰越来越宽，实际上利用X射线衍射峰的宽化对样品的结晶颗粒度分析就是根据这个原理的（Scherrer公式）。晶粒大小和颗粒大小有关系，但是其各自的含义是有区别的。一颗晶粒也可能就是一颗颗粒，但是更可能的情况是晶粒抱到一起，二次聚集，成为颗粒。颗粒不是衍射的基本单位，但是微小的颗粒能产生散射。如果磨的越细，散射就越强。对于晶粒，如果磨过头了，晶体结构被破坏了，磨成非晶，衍射能力就没有了。磨得太狠的话，有些峰可能要消失了，而且相邻较近的衍射峰会由于宽化而相互叠加，会变成1个或几个"鼓包"。一般晶面间距大的峰受晶粒细化的影响会明显一些，因为d值大的晶面容易被破坏。XRD的测试原理是布拉格方程，检测速度相当快。广州进口布鲁克D8 Advance厂家
XRD设备适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要。深圳布鲁克X射线衍射仪仪器原理
XRD设备如此的受欢迎，主要是因为：XRD设备具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYEXE-T具有优于380eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且不需要金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余K?和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。提供独有的LYNXEYEXE-T探测器保证：交货时保证无坏道！深圳布鲁克X射线衍射仪仪器原理
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