高分辨率XRD，能够确定外延层的厚度、成分、松弛、应变、掺杂剂水平和误切。直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成。在需要时将三轴分析仪晶体自动插入和对齐到光束中。自动样品校准、测量、分析和报告。倒数空间图在几分钟内完成并使用PeakSplit进行分析。可以使用模拟双轴和三轴衍射扫描。样品要求：粉末样品请准备至少20mg，0.1g以上较好，量少可以用微量室，但是效果相对不是很好。需要粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感；块状样品要求长宽1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，需要注明测试面，测试面需要平整光洁。X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异。进口布鲁克X射线衍射仪供应商
XRD仪器操作规程如下：制样：1.粉末样品制样方法：粉末样品应干燥，粒度一般要求约10~80μm，应过200目筛子（约0.08mm），且避免颗粒不均匀。用药勺取适量样品于玻璃样品架中间的槽里，另取一块载玻片，用载玻片轻轻将样品压紧，并将高出样品架表面的多余粉末刮去，如此重复几次使样品表面平整。将样品架边缘的样品刮掉，擦干净即可进行测试。注意事项：玻璃样品架易碎、数量有限，使用要千万小心，如有损坏按原价赔偿。制样时用力要均匀，不可力度过大，以免形成粉粒定向排列。样品一定要刮平，且与样品架表面高度一致，否则引起测量角度和对应d值偏差。其他样品：对于不易研碎的样品，可先将其处理成与窗孔大小一致，磨平一面，再用橡皮泥或石蜡将其固定在窗孔内，固定时橡皮泥或石蜡等请注意略低于样品，不要与样品齐平。片状、纤维状或薄膜样品也可类似固定在样品架的窗孔内，应注意使样品表面与样品架平齐。深圳台式XRD工作原理XRD设备特点：轻松操控仪器，获得好数据。
X射线衍射仪构造：X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为X射线衍射仪的基本构造原理图，主要部件包括4部分。（1）高稳定度X射线源。提供测量所需的X射线，改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长，调节阳极电压可控制X射线源的强度。（2）样品及样品位置取向的调整机构系统。样品须是粉末、单晶、多晶或微晶的固体块。（3）射线检测器。检测衍射强度或同时检测衍射方向，通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。（4）衍射图的处理分析系统。现代X射线衍射仪都附带安装有专门用的衍射图处理分析软件的计算机系统，它们的特点是自动化和智能化。
XRD衍射强度和峰的宽度与样品颗粒大小，还是与晶体颗粒大小有关？样品中晶粒越小，衍射峰的峰高的强度越来越低，但是峰越来越宽，实际上利用X射线衍射峰的宽化对样品的结晶颗粒度分析就是根据这个原理的（Scherrer公式）。晶粒大小和颗粒大小有关系，但是其各自的含义是有区别的。一颗晶粒也可能就是一颗颗粒，但是更可能的情况是晶粒抱到一起，二次聚集，成为颗粒。颗粒不是衍射的基本单位，但是微小的颗粒能产生散射。如果磨的越细，散射就越强。对于晶粒，如果磨过头了，晶体结构被破坏了，磨成非晶，衍射能力就没有了。磨得太狠的话，有些峰可能要消失了，而且相邻较近的衍射峰会由于宽化而相互叠加，会变成1个或几个"鼓包"。一般晶面间距大的峰受晶粒细化的影响会明显一些，因为d值大的晶面容易被破坏。XRD设备的特点：超大面积，超快速度。
XRD设备概述如下：X射线衍射作为一电磁波投射到晶体中时，会受晶体中原子的影响出现衍射现象。每种晶体内部的原子排列方式是独一的，因此对应的衍射花样是独一的，从而可以进行物相分析。XRD设备可以进行数据传输：仪器通过USB，蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。良好的环境适应性：专为地质考察而研制，仪器可防雾、防尘、防震动，能适应恶劣的使用环境。安全性：专业的多重防护辐射处理，测量时仪器多方位无任何辐射泄漏。XRD设备的特点：操作简单。广东进口德国D2 Phaser生产厂家
现代X射线衍射仪都附带安装有专门用的衍射图处理分析软件的计算机系统。进口布鲁克X射线衍射仪供应商
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的”晶态”物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此很窄的”尖峰”（其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的”至小宽度”）。如果这些”峰”明显地变宽，则能够判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为”微晶”。晶体的X射线衍射理论中有一个Scherrer公式，可以根据谱线变宽的量估算晶粒在该衍射方向上的厚度。进口布鲁克X射线衍射仪供应商
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