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深圳粉末衍射仪仪器原理

来源: 发布时间:2022年11月01日

XRD设备组成:X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,主要部件包括4部分。(1)高稳定度X射线源,提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2)样品及样品位置取向的调整机构系统,样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。(3)射线检测器,检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。(4)衍射图的处理分析系统,现代X射线衍射仪都附带安装有专门使用衍射图处理分析软件的计算机系统,它们的特点是自动化和智能化。XRD设备注意事项:严禁用手触摸或擅自调节。深圳粉末衍射仪仪器原理

X射线衍射仪的英文名称是X-ray Powder diffractometer简写为XPD或XRD。有时会把它叫做x射线多晶体衍射仪,英文名称为X-ray polycrystalline diffractometer简写仍为XPD或XRD。X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。进口德国D2 Phaser参数高分辨率 XRD ,可以确定外延层的厚度、成分、松弛、应变、掺杂剂水平和误切。

XRD设备支持所有基于X射线衍射和散射的材料研究应用,包括定性和定量相分析、结构分析、高分辨率X射线衍射、反射率测量、倒易空间扫描、掠入射衍射(面内GID)、掠入射小角X射线散射(GISAXS)、应力分析和织构分析以及微区衍射,具体取决于使用的附件。无论面对何种应用,XRD设备都会指引用户选择较佳的仪器配置。软件包可通过精简的分析方法制定与执行,来对新手用户进行指导,同时以低调的方式为**提供协助。借助强大的分析软件,那些希望获取较佳结果的人员,只需按下按键,就可获得深入的分析结果。

XRD设备的注意事项:(1)固体样品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必须平整,可以用几块粘贴一起。(2)对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向,衍射强度异常,需提供测试方向。(3)对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层。(4)粉末样品要求磨成320目的粒度,直径约40微米,重量大于5g。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。XRD设备的注意事项:固体样品的表面必须平整。

XRD设备可在大气中无损分析样品,进行物质的定性分析、晶格常数确定等。并且,可通过峰面积计算进行定量分析。 可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。X射线与物质作用时,就其能量转换而言,一般分为三部分,其中一部分被散射,一部分被吸收,一部分通过物质继续沿原来方向传播。散射的X射线与入射X射线波长相同时对晶体将产生衍射现象,即晶面间距产生的光程差等于波长的整数倍时。将每种晶体物质特有的衍射花样与标准衍射花样对比,利用三强峰原则,即可鉴定出样品中存在的物相。XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。台式D8 Advance仪器原理

为什么XRD测试要求薄膜(块体)样品尺寸要合适?深圳粉末衍射仪仪器原理

XRD设备简介:仪器通过对样品进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息(材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息),具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点,是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。XRD设备的送样要求:1)粉末样品:颗粒度在10微米以下;块体、薄膜样品:表面打磨平滑,厚度不超过5毫米;尺寸不超过2厘米(平台不提供制样)。2)信息要求:若需样品成分分析,需提供体系可能含有的全部元素。深圳粉末衍射仪仪器原理

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