可返修底部填充胶及其制备方法,本发明的底部填充胶中采用特有配方的环氧树脂,稀释剂,分散剂,促进剂,偶联剂,固化剂,通过科学的成分配比及制备方法,所制得的底部填充胶经测试值熔点超过60℃,具有容易可返修的特点,加热除胶时可以使用更低温度,降低对主板和元器件的热损伤;受热时更容易从主板和元器件上脱落,从而具有优良的可返修效果,返修报废率低,另外,较低温度及较短时间的加热能耗低,降低返修成本。芯片封装特用低介电高导热底部填充胶,芯片封装特用低介电高导热底部填充胶,其特征在于包括低分子量的含氟聚苯酚结构的环氧树脂,环氧树脂,稀释剂,增韧剂,固化剂,潜伏性促进剂,硅烷偶联剂,导热填料及消泡剂.其以该树脂降低基体树脂的介电常数,同时通过增加高导热的填料实现高导热性能,具有低介电,高导热,低CTE,高Tg和高模量的特性,适合在5G移动通讯芯片中作为底部填充胶使用。底部填充胶起什么作用？桂林芯片金线保护胶厂家
底部填充胶在使用过程中，出现空洞和气隙是很常见的问题，出现空洞的原因与其封装设计和使用模式息息相关，典型的空洞会导致可靠性的下降。了解空洞行成的不同起因及其特性，将有助于解决底部填充胶的空洞问题。底部填充胶空洞检测的方法，主要有以下三种: ◥利用玻璃芯片或基板： 直观检测，提供即时反馈，缺点在于玻璃器件上底部填充胶（underfill）的流动和空洞的形成与实际的器件相比，可能有细微的偏差。 ◥超声成像和制作芯片剖面： 超声声学成像是一种强有力的工具，它的空洞尺寸的检测限制取决于封装的形式和所使用的仪器。 ◥将芯片剥离的破坏性试验： 采用截面锯断，或将芯片或封装从下underfill底部填充胶上剥离的方法，有助于更好地了解空洞的三维形状和位置，缺点在于它不适用于还未固化的器件。江门bgaunderfill厂家PoP底部填充胶的点胶工艺解析。
底部填充胶的流动现象是反波纹形式，黄色点为底部填充胶的起点位置，黄色箭头为胶水流动方向，黄色线条即为底部填充胶胶水在BGA 芯片底部的流动现象，于是通常底部填充胶在生产流水线上检查其填充效果，只需要观察底部填充胶胶点的对面位置，即可判定对面位置是否能看到胶水痕迹。底部填充胶经历了：手工——喷涂技术————喷射技术三大阶段，目前应用较多的是喷涂技术，但喷射技术以为精度高，节约胶水而将成为未来的主流应用，但前提是解决其设备高昂的问题，但随着应用的普及和设备的大批量生产，设备价格也会随之下调。
underfill底部填充胶点胶时易出现的问题： 1、一般的underfill点胶正常来说是一团团在那里，有点类似于牙膏挤压出来的状态。而在smt贴片打样或加工过程中，点胶点高就是指这一团底部填充胶的高度过高，这个过高是以整个元器件为标准的，高度过高就会产生拉丝现象。点胶点过高的原因有：底部填充胶过于粘稠，缺少良好的流动性。点胶量过多，点胶时推力大，针口较粗等。 2、点胶坍塌是和点胶点高相反的情况，整个元器件向点胶部位倾斜。点胶坍塌的因素就是底部填充胶过稀导致流动性太强，点胶量较少等，当然还有底部填充胶变质，例如储存条件不好，过期等因素。IC倒装芯片底部填充胶需具备有良好的流动性，较低的粘度。
将底部填充胶喷射到窄缝内: 随着晶圆上芯片数量的增加，芯片之间的间隙变得越来越窄，一直减小到几百微米。同时，为了实现小型化目标，芯片下方的凸点高度持续减小，一直降至几十微米。必须将大量的底部填充胶准确地输送到芯片之间，并使其在每个芯片下的凸点周围流动。这些狭窄的空间和紧凑的几何形状需要采用一种新的底部填充点胶工艺方法。 了解挑战： 向窄缝内点胶时，底部填充胶的总量通常会被分布到多个点胶循环上，每个循环将输送少量流体，从而留出使流体在芯片下方流动的时间。然而，为了实现提高每小时晶圆产出量的更终目标，必须使总的大胶量快速充满，即使每次用很小的胶量。 第二大挑战是：如果射流不够窄或无法进行精确控制的情况下，芯片或其它元件的顶部出现流体污染，如何防止？ 为了克服这一限制，必须利用纤细狭窄的液流在高频下喷射底部填充胶。底部填充胶较高的流动性加强了其返修的可操作性。大同填充胶厂家
那么为什么使用底部填充胶呢？桂林芯片金线保护胶厂家
底部填充胶固化后通过芯片四周可以观察到胶水表面情况，但是内部的缺陷如不固化、填充不满、气孔等则需要通过切片分析才可以观察。切片分析是将固化后的芯片与线路板切下，用研磨机器从线路板面打磨，研磨到锡球与胶水层，在显微镜下观察胶水在芯片底部的填充情况，底部填充胶的不固化情况通常是由于胶水的固化温度、时间不够或者是兼容性问题造成的。造成填充不满和气孔的原因主要有：胶水流动性、胶水气泡、基板污染、基板水气等。胶水填充不满会对跌落测试造成影响，容易有开裂问题。而气孔问题则会在热冲击实验中出现较大影响，在高温度下气孔出会产生应力，对胶体和焊点造成破坏。桂林芯片金线保护胶厂家
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