电子设备中使用着大量各种类型的电子元器件，设备发生故障大多是由于电子元器件失效或损坏引起的。因此正确检测电子元器件就显得尤其重要，这也是电子维修人员必须掌握的技能。1．测整流电桥各脚的极性万用表置R×1k挡，黑表笔接桥堆的任意引脚，红表笔先后测其余三只脚，如果读数均为无穷大，则黑表笔所接为桥堆的输出正极，如果读数为4～10k，则黑表笔所接引脚为桥堆的输出负极，其余的两引脚为桥堆的交流输入端。2．判断晶振的好坏先用万用表(R×10k挡)测晶振两端的电阻值，若为无穷大，说明晶振无短路或漏电；再将试电笔插人市电插孔内，用手指捏住晶振的任一引脚，将另一引脚碰触试电笔顶端的金属部分，若试电笔氖泡发红，说明晶振是好的；若氖泡不亮，则说明晶振损坏。3．单向晶闸管检测晶闸管共有3个PN结，我们可以通过测量PN结正、反向电阻的大小来判别它的好坏。测量控制极(G)与阴极(C)之间的电阻时，如果正、反向电阻均为零或无穷大，表明控制极短路或断路；测量控制极(G)与阳极(A)之间的电阻时，正、反向电阻读数均应很大；测量阳极(A)与阴极(C)之间的电阻时，正、反向电阻都应很大。可用万用表的R×lk或R×100挡测量任意两极之间的正、反向电阻。上海海谷电子有限公司致力于提供电子元器件回收，有想法的不要错过哦！苏州废弃电子元器件回收行情
设计无法避免的情况下，推荐固态继电器。品牌:推荐PANASONIC、OMRON、松川。电源选型AC/DC电源选型规则1)对于可靠性要求高的产品，电源推荐LAMBDA和COSEL；对于无特殊要求的通用产品，可选用利得华福，星原丰泰和铭纬的电源，优先选择铭伟电源。2)选Lambda电源时，便于归一化要求大家统一选带JST接插件的型号。3)新产品尽量选用标准电源，不推荐定制电源。隔离DC/DC电源选型规则1)隔离DC/DC电源推荐TI公司的产品，TI产品不能满足要求时推荐C&D。运放选型运放选型时参数要求：1)开环电压放大倍数：Avd≥80dB（Avd·β足够大）；2)差模输入电阻：Rid比反馈网络的输出阻抗大1～2个量级，由输入电阻引起的误差就可以忽略；3)输出电阻：Ro比后级输出端外总负载电阻小1～2个量级，由输出电阻引起的误差就可以忽略；4)单位增益带宽：BWG比实际闭环增益带宽大1个量级以上；5)共模比：CMRR足够大，抗干扰设计中重要；6)输入失调电压：Vio不超过系统精度要求的1/3。7)品牌：尽量选择公司已经在使用或者市面上常用的型号，推荐使用TI,ADI或者LT的相关型号。1)精度：与系统中所测量控制的信号范围有关，但估算时要考虑到其他因素，转换器位数应该比总精度要求的低分辩率高一位。北京废弃电子元器件回收网上海海谷电子有限公司为您提供电子元器件回收，有想法的不要错过哦！
从而便于观察。应注意的是：在测试操作时。特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触A、B两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。C）对于001μF以上的固定电容，可用万用表的R×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。2、电解电容器的检测A）因为电解电容的容量较一般固定电容大得多，所以，测量时，应针对不同容量选用合适的量程。根据经验，一般情况下，1～47μF间的电容，可用R×1k挡测量，大于47μF的电容可用R×100挡测量。B）将万用表红表笔接负极，黑表笔接正极，在刚接触的瞬间，万用表指针即向右偏转较大偏度（对于同一电阻挡，容量越大，摆幅越大），接着逐渐向左回转，直到停在某一位置。此时的阻值便是电解电容的正向漏电阻，此值略大于反向漏电阻。实际使用经验表明，电解电容的漏电阻一般应在几百kΩ以上，否则，将不能正常工作。在测试中，若正向、反向均无充电的现象，即表针不动，则说明容量消失或内部断路；如果所测阻值很小或为零，说明电容漏电大或已击穿损坏，不能再使用。C.对于正、负极标志不明的电解电容器，可利用上述测量漏电阻的方法加以判别。
6、负温度系数热敏电阻。NTC)的检测A）测量标称电阻值Rt用万用表测量NTC热敏电阻的方法与测量普通固定电阻的方法相同，即根据NTC热敏电阻的标称阻值选择合适的电阻挡可直接测出Rt的实际值。但因NTC热敏电阻对温度很敏感，故测试时应注意以下几点：①Rt是生产厂家在环境温度为25℃时所测得的，所以用万用表测量Rt时，亦应在环境温度接近25℃时进行，以保证测试的可信度。②测量功率不得超过规定值，以免电流热效应引起测量误差。③注意正确操作。测试时，不要用手捏住热敏电阻体，以防止人体温度对测试产生影响。B）估测温度系数αt先在室温t1下测得电阻值Rt1，再用电烙铁作热源，靠近热敏电阻Rt，测出电阻值RT2，同时用温度计测出此时热敏电阻RT表面的平均温度t2再进行计算。7、压敏电阻的检测用万用表的R×1k挡测量压敏电阻两引脚之间的正、反向绝缘电阻，均为无穷大，否则，说明漏电流大。若所测电阻很小，说明压敏电阻已损坏，不能使用。8、光敏电阻的检测A）用一黑纸片将光敏电阻的透光窗口遮住，此时万用表的指针基本保持不动，阻值接近无穷大。此值越大说明光敏电阻性能越好。若此值很小或接近为零，说明光敏电阻已烧穿损坏，不能再继续使用。上海海谷电子有限公司为您提供电子元器件回收，欢迎您的来电！
6、温度循环：确定光电子器件承受极高温度和极低温度的能力，以及极高温度和极低温度交替变化对光电子器件的影响。7、恒定湿热：确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度。8、高温寿命：确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命。加速老化试验在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行加速老化。依据试验的结果来判定光电子器件具备功能和丧失功能，以及接收和拒收，并可对光电子器件工作条件进行调整和对可靠性进行计算。1、高温加速老化：加速老化过程中的基本环境应力式高温。在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止为止。2、恒温试验：恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数。3、变温试验：变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度（例如，60℃、85℃和100℃）。4、温度循环：除了作为环境应力试验需要对光电子器件进行温度循环外，温度循环还可以对管电子器件进行加速老化。温度循环的加速老化目的一般不是为了引起特定的性能参数的退化，而是为了提供封装在组件里的光路长期机械稳定性的附加说明。金鉴显微红外热点定位测试系统金鉴全自动红外体温筛查机体温异常。上海海谷电子有限公司为您提供电子元器件回收，期待您的光临！无锡电子元器件回收中心
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当环境温度由40℃增至100℃时，允许使用的实际功率将降为标称值的20%；又如，当环境温度由70℃增至125℃时，允许使用功率为标称值的20%。此外，温度的变化对阻值大小有一定的影响，温度每升高或降低10℃，电阻大约要变化1%。④温度对电容器的影响。温度对电容器的影响主要体现为降低其使用时间。通常认为，当在超过规定使用温度下工作时，每提高10℃，使用时间就要减少一半。此外，温度的变化也会引起电容、功率因素等参数的变化。因此，对各种电容器的允许工作温度也进行了规定。⑤温度对电感类器件（变压器、扼流圈）的影响。温度对变压器、扼流圈等元器件的影响：除减少其使用时间外，还会使材料的绝缘性能下降。一般变压器、扼流圈的允许温度要低于90℃。2．电子元器件工作温度的选用要求对于元器件的工作温度选择，一般只需根据产品本身特点确定元器件的质量等级即可。不同质量等级的电子元器件的工作温度范围是：①商业级元器件的工作温度范围是0～+70℃。②工业级元器件的工作温度范围是−40～+85℃。③**级元器件的工作温度范围是−55～+150℃。④汽车工业级元器件的工作温度范围是−40～+125℃。3．电子元器件耐焊接温度的选用要求。苏州废弃电子元器件回收行情
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