CAF是指印制线路板内部在电场作用下跨越非金属基材而迁移传输的导电性金属盐构成的电化学迁移。它通常发生在印制线路板基材中沿玻璃纤维到树脂的界面上，从而导致两个相邻的导体之间绝缘性能下降甚至造成短路(见图1)，是印制线路板产生电气故障的一个重大而且具有潜在危险的根源。随着电子设备在提高功能和性能的同时也向小型化、轻量化迅速发展，印制线路板的线路也越来越细，间距越来越小，绝缘层越来越薄，钻孔尺寸也向更小更密的方向发展，并且由于信息传输速度的提升，使得印制板所承受的工作温度也在不断地上升。常州中策仪器有限公司创建于1999年，是一家集研发、制造、营销于一体的****，欢迎来电哦。广东第三方检测CAF测试系统
ECM/SIR与CAF的共同点与差异共同点：从产生的原因看：CAF与ECM/SIR都是一个电化学过程；从产生的条件来看（都需要符合下面3个条件）：电解液环境，即湿度与离子（Electrolyte–humidityandionicspecies）；施加偏压（Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction）;·存在离子迁移的通道意味着玻纤与树脂的结合间存在缺陷，或线与线间存在杂物等；（“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode；Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects）；加剧其产生的条件类似：高湿环境（Highhumidityrate）；高电压（HigherVoltagelevels）；高温环境（Highertemperature）；从监控的方式看：都是通过监控其绝缘阻值变化作为**重要的判断指标；故很多汽车行业或实验室已习惯上把ECM/SIR从广义上定义为CAF的一种（线与线之间的表面CAF）。江苏微间距IC封装吸湿特性CAF测试系统原理常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统，若有需要，欢迎咨询；
同样的案例还有广东某客户来样进行CAF项目的可靠性测试，测试结束后发现样品绝缘阻值失效现象很严重，于是要求进行后续的失效分析。通过对该考试板样品的表面观察，发现了很多的树枝状生长，从类型上看应该属于表面迁移的现象，但是由于迁移出现的位置比较特殊，我们便进行了放大观察，感觉该迁移的生长并非在样品表面，而是在接近表面的阻焊油墨中间。为了验证假设，我们对样品表面进行了微蚀处理，按照以往的经验，如果该迁移确实在表面，那应该是可以直接被微蚀掉的。
电子产品高低温循环测试电子产品或元器件的互联可靠性中较重要的是各回路的互联电阻。互联可靠性一般通过高低温循环进行测试，高低温循环测试是将测试样品交替置于高温和低温环境一定的时间，如高低温冲击箱，热油试验箱等。并检测测试样品的各种电性能的变化情况。从而得到产品的可靠性和寿命等有关数据，电子产品或元器件的高低温循环测试中的互联电阻测试方法离线测试。一般是在试验箱外对待测试产品进行各项电性能测试后，再放入高低温循环测试试验箱，经过一定时间的高低温循环测试后，将待测试样品取出，再次进行各项电性能测试，如此循环重复多次，直到设定的测试循环数完成或待测试样品失效。由于离线测试需要中途停止高低温循环并将待测试产品取出试验箱后进行测试，一方面无法进行高频率的测试，一般只能几十或上百循环才能进行一次测试，另一方面，测试中产品如果发生失效，只能在下一次测试时才能发现，并且无法得到产品发生失效的具体循环数，这样对于一些产品质量相差不大的产品或批次无法进行甄别。中策仪器有限公司拥有CAF测试系统，若有需要欢迎来电！
ECM/SIR与CAF的重要性由于介电层变薄、线路及孔距变密是高密度电子产品的特性，而大多数的高阶电子产品也需要较高的信赖度，故越来越多的产品被要求进行ECM/SIR/CAF测试，如航空产品、汽车产品、医疗产品、服务器等，以确保产品在相对恶劣的使用条件下的寿命与可靠性；离子迁移既然是绝缘信赖度的***，因此高密度电子产品都十分在乎及重视材料的吸水性及水中不纯物的控管，因为这些正是离子迁移的重要元凶。例如：加水分解性氯、电镀液中的盐类、铜皮表面处理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了这些控管，导致ECM或CAF的生成，便会造成产品在使用寿命及电性功能上的障碍；藉着控制卤素及金属盐类的含量、铜皮上的铬含量、树脂中的氯含量、表面清洁度（防焊前处理），这些对绝缘劣化影响很大的项目，可以大幅提升高密度电路板的信赖性。常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统；若有需要，欢迎来电咨询噢！安徽pcb板失效分析CAF测试系统频率
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CAF的产生过程及平均失效时间的分析如图5所示，有以下趋势：1）当外加偏压一定时，随着孔壁间距的上升，其平均CAF失效时间也大幅提高；2）当孔壁间距一定，外加偏压较大（100V以上）时，所有孔壁间距在500V、300V、100V三种外加偏压下的平均CAF失效时间差异较小，基本保持同一水平；当外加偏压较小（10V以下）时，所有孔壁间距在10V、3.3V两种外加偏压下的平均CAF失效时间差异较大。产生2）中的趋势可能为以下原因：CAF的产生过程由水解和电化学迁移组成，我们假设在分析平均CAF失效时间时，可以将其拆分为水解时间和电化学迁移时间分别进行分析和试验验证。由于水解和电化学迁移速度受外加偏压的影响程度不同，那么在不同的外加偏压下，如果水解时间和电化学迁移时间在平均CAF失效时间中的比重发生了偏移，就有可能产生两段不同的趋势。这样的假设是否成立，必须要考察的是水解时间和电化学迁移时间的**性，水解时间和电化学迁移时间是否互相没有影响。广东第三方检测CAF测试系统
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